Die 8-Zoll-Siliziumwafer von VET Energy werden häufig in der Leistungselektronik, Sensoren, integrierten Schaltkreisen und anderen Bereichen eingesetzt. Als führendes Unternehmen in der Halbleiterindustrie sind wir bestrebt, qualitativ hochwertige Si-Wafer-Produkte anzubieten, um den wachsenden Anforderungen unserer Kunden gerecht zu werden.
Neben Si-Wafern bietet VET Energy auch eine breite Palette an Halbleitersubstratmaterialien an, darunter SiC-Substrat, SOI-Wafer, SiN-Substrat, Epi-Wafer usw. Unsere Produktlinie umfasst auch neue Halbleitermaterialien mit großer Bandlücke wie Galliumoxid Ga2O3 und AlN Wafer, das die Entwicklung leistungselektronischer Geräte der nächsten Generation stark unterstützt.
VET Energy verfügt über fortschrittliche Produktionsanlagen und ein umfassendes Qualitätsmanagementsystem, um sicherzustellen, dass jeder Wafer strengen Industriestandards entspricht. Unsere Produkte verfügen nicht nur über hervorragende elektrische Eigenschaften, sondern auch über eine gute mechanische Festigkeit und thermische Stabilität.
VET Energy bietet seinen Kunden maßgeschneiderte Waferlösungen, darunter Wafer unterschiedlicher Größe, Art und Dotierungskonzentration. Darüber hinaus bieten wir professionellen technischen Support und Kundendienst, um Kunden bei der Lösung verschiedener Probleme zu unterstützen, die während des Produktionsprozesses auftreten.
WAFERING-SPEZIFIKATIONEN
*n-Pm=n-Typ Pm-Qualität, n-Ps=n-Typ Ps-Qualität, Sl=halbisolierend
Artikel | 8 Zoll | 6 Zoll | 4 Zoll | ||
nP | n-Pm | n-Ps | SI | SI | |
TTV(GBIR) | ≤6um | ≤6um | |||
Bow(GF3YFCD) – Absoluter Wert | ≤15μm | ≤15μm | ≤25μm | ≤15μm | |
Warp(GF3YFER) | ≤25μm | ≤25μm | ≤40μm | ≤25μm | |
LTV(SBIR)-10mmx10mm | <2μm | ||||
Waferkante | Abschrägung |
OBERFLÄCHENVERARBEITUNG
*n-Pm=n-Typ Pm-Qualität, n-Ps=n-Typ Ps-Qualität, Sl=halbisolierend
Artikel | 8 Zoll | 6 Zoll | 4 Zoll | ||
nP | n-Pm | n-Ps | SI | SI | |
Oberflächenbeschaffenheit | Doppelseitige optische Politur, Si-Face CMP | ||||
Oberflächenrauheit | (10 um x 10 um) Si-FaceRa≤0,2 nm | (5 um x 5 um) Si-Oberfläche Ra≤0,2 nm | |||
Kantensplitter | Nicht zulässig (Länge und Breite ≥ 0,5 mm) | ||||
Einrückungen | Nichts erlaubt | ||||
Kratzer (Si-Face) | Menge ≤ 5, kumulativ | Menge ≤ 5, kumulativ | Menge ≤ 5, kumulativ | ||
Risse | Nichts erlaubt | ||||
Kantenausschluss | 3mm |