Die Produktpalette von VET Energy ist nicht auf Siliziumwafer beschränkt. Wir bieten auch eine breite Palette von Halbleitersubstratmaterialien an, darunter SiC-Substrat, SOI-Wafer, SiN-Substrat, Epi-Wafer usw. sowie neue Halbleitermaterialien mit großer Bandlücke wie Galliumoxid Ga2O3 und AlN-Wafer. Diese Produkte können die Anwendungsanforderungen verschiedener Kunden in den Bereichen Leistungselektronik, Hochfrequenz, Sensoren und anderen Bereichen erfüllen.
Anwendungsgebiete:
•Integrierte Schaltkreise:Als Grundmaterial für die Herstellung integrierter Schaltkreise werden Siliziumwafer vom P-Typ häufig in verschiedenen Logikschaltkreisen, Speichern usw. verwendet.
•Leistungsgeräte:Siliziumwafer vom P-Typ können zur Herstellung von Leistungsgeräten wie Leistungstransistoren und Dioden verwendet werden.
•Sensoren:Siliziumwafer vom P-Typ können zur Herstellung verschiedener Arten von Sensoren verwendet werden, wie z. B. Drucksensoren, Temperatursensoren usw.
•Solarzellen:Siliziumwafer vom P-Typ sind ein wichtiger Bestandteil von Solarzellen.
VET Energy bietet seinen Kunden maßgeschneiderte Waferlösungen und kann Wafer mit unterschiedlichem spezifischem Widerstand, unterschiedlichem Sauerstoffgehalt, unterschiedlicher Dicke und anderen Spezifikationen entsprechend den spezifischen Bedürfnissen der Kunden anpassen. Darüber hinaus bieten wir professionellen technischen Support und Kundendienst, um Kunden bei der Lösung verschiedener Probleme im Produktionsprozess zu unterstützen.
WAFERING-SPEZIFIKATIONEN
*n-Pm=n-Typ Pm-Qualität, n-Ps=n-Typ Ps-Qualität, Sl=halbisolierend
Artikel | 8 Zoll | 6 Zoll | 4 Zoll | ||
nP | n-Pm | n-Ps | SI | SI | |
TTV(GBIR) | ≤6um | ≤6um | |||
Bow(GF3YFCD) – Absoluter Wert | ≤15μm | ≤15μm | ≤25μm | ≤15μm | |
Warp(GF3YFER) | ≤25μm | ≤25μm | ≤40μm | ≤25μm | |
LTV(SBIR)-10mmx10mm | <2μm | ||||
Waferkante | Abschrägung |
OBERFLÄCHENVERARBEITUNG
*n-Pm=n-Typ Pm-Qualität, n-Ps=n-Typ Ps-Qualität, Sl=halbisolierend
Artikel | 8 Zoll | 6 Zoll | 4 Zoll | ||
nP | n-Pm | n-Ps | SI | SI | |
Oberflächenbeschaffenheit | Doppelseitige optische Politur, Si-Face CMP | ||||
Oberflächenrauheit | (10 um x 10 um) Si-FaceRa≤0,2 nm | (5 um x 5 um) Si-Oberfläche Ra≤0,2 nm | |||
Kantensplitter | Nicht zulässig (Länge und Breite ≥ 0,5 mm) | ||||
Einrückungen | Nichts erlaubt | ||||
Kratzer (Si-Face) | Menge ≤ 5, kumulativ | Menge ≤ 5, kumulativ | Menge ≤ 5, kumulativ | ||
Risse | Nichts erlaubt | ||||
Kantenausschluss | 3mm |