ထုတ်ကုန်အချက်အလက်နှင့် တိုင်ပင်ဆွေးနွေးမှုအတွက် ကျွန်ုပ်တို့၏ဝဘ်ဆိုဒ်မှ ကြိုဆိုပါသည်။
ကျွန်ုပ်တို့၏ဝဘ်ဆိုဒ်-https://www.vet-china.com/
ဆီမီးကွန်ဒတ်တာ ထုတ်လုပ်မှု လုပ်ငန်းစဉ်များသည် အောင်မြင်မှုများ ဆက်လက်ဖြစ်ပေါ်နေသဖြင့် "Moore's Law" ဟုခေါ်သော ကျော်ကြားသော ထုတ်ပြန်ချက်သည် စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် ပျံ့နှံ့လျက်ရှိသည်။ Intel ၏တည်ထောင်သူတစ်ဦးဖြစ်သည့် Gordon Moore မှ 1965 ခုနှစ်တွင် အဆိုပြုခဲ့သည်။ ၎င်း၏အဓိကအကြောင်းအရာမှာ- ပေါင်းစပ်ပတ်လမ်းတစ်ခုတွင်ထားရှိနိုင်သော transistor အရေအတွက်သည် 18 မှ 24 လတစ်ကြိမ်ခန့် နှစ်ဆဖြစ်လိမ့်မည်။ ဤဥပဒေသည် စက်မှုလုပ်ငန်း၏ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုလမ်းကြောင်းကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာပြီး ခန့်မှန်းရုံသာမက တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းထုတ်လုပ်မှု လုပ်ငန်းစဉ်များ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေးအတွက် မောင်းနှင်အားတစ်ခုဖြစ်သည် - အရာအားလုံးသည် အရွယ်အစားသေးငယ်ပြီး တည်ငြိမ်သောစွမ်းဆောင်ရည်ရှိသော ထရန်စစ္စတာများကို ပြုလုပ်ရန်ဖြစ်သည်။ 1950 ခုနှစ်များမှ ယနေ့အထိ နှစ် 70 ခန့်တွင် BJT၊ MOSFET၊ CMOS၊ DMOS နှင့် hybrid BiCMOS နှင့် BCD လုပ်ငန်းစဉ်ဆိုင်ရာ နည်းပညာများ စုစုပေါင်းကို တီထွင်နိုင်ခဲ့သည်။
1. BJT
Bipolar junction transistor (BJT) ကို အများအားဖြင့် triode ဟုခေါ်သည်။ Transistor တွင် အားသွင်းစီးဆင်းမှုသည် အဓိကအားဖြင့် PN လမ်းဆုံရှိ သယ်ဆောင်သူများ၏ ပျံ့နှံ့မှုနှင့် ပျံ့လွင့်မှုတို့ကြောင့်ဖြစ်သည်။ ၎င်းတွင် အီလက်ထရွန်နှင့် အပေါက်များ စီးဆင်းမှု ပါ၀င်သောကြောင့် ၎င်းကို bipolar device ဟုခေါ်သည်။
သူ့ရဲ့ မွေးဖွားမှု သမိုင်းကြောင်းကို ပြန်ကြည့်ပါ။ လေဟာနယ် triode များကို ခိုင်မာသော အသံချဲ့စက်များဖြင့် အစားထိုးရန် စိတ်ကူးကြောင့် Shockley သည် 1945 ခုနှစ် နွေရာသီတွင် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးကိရိယာများဆိုင်ရာ အခြေခံသုတေသနပြုလုပ်ရန် အဆိုပြုခဲ့သည်။ 1945 ခုနှစ် ဒုတိယနှစ်ဝက်တွင်၊ Bell Labs သည် Shockley ဦးဆောင်သော solid-state physics သုတေသနအဖွဲ့ကို တည်ထောင်ခဲ့သည်။ ဤအဖွဲ့တွင် ရူပဗေဒပညာရှင်များသာမက တိုက်နယ်အင်ဂျင်နီယာများနှင့် ဓာတုဗေဒပညာရှင် Bardeen၊ သီအိုရီပိုင်းဆိုင်ရာ ရူပဗေဒပညာရှင်နှင့် စမ်းသပ်ရူပဗေဒပညာရှင် Brattain တို့လည်း ပါဝင်သည်။ 1947 ခုနှစ် ဒီဇင်ဘာလတွင်၊ နောက်ပိုင်းမျိုးဆက်များ၏ မှတ်တိုင်တစ်ခုဟု ယူဆရသည့် အဖြစ်အပျက်တစ်ခု တောက်ပစွာ ဖြစ်ပျက်ခဲ့သည် - Bardeen နှင့် Brattain တို့သည် လက်ရှိ ချဲ့ထွင်ထားသော ကမ္ဘာ့ပထမဆုံး ဂျာမီယမ် ပွိုင့်အဆက်အသွယ် ထရန်စစ္စတာအား အောင်မြင်စွာ တီထွင်နိုင်ခဲ့သည်။
Bardeen နှင့် Brattain ၏ ပထမဆုံး ပွိုင့်အဆက်အသွယ် ထရန်စစ္စတာ
ထို့နောက် မကြာမီတွင် Shockley သည် ၁၉၄၈ ခုနှစ်တွင် စိတ်ကြွထရန်စစ္စတာအား တီထွင်ခဲ့သည်။ ထရန်စစ္စတာအား pn လမ်းဆုံနှစ်ခု၊ ရှေ့ဘက်ဘက်လိုက် နှင့် နောက်တစ်ခုပြောင်းပြန်ဘက်လိုက်မှုတို့ကို အဆိုပြုခဲ့ပြီး ၁၉၄၈ ခုနှစ် ဇွန်လတွင် မူပိုင်ခွင့်တစ်ခု ရရှိခဲ့သည်။ ၁၉၄၉ ခုနှစ်တွင် အသေးစိတ်သီအိုရီကို ထုတ်ဝေခဲ့သည်။ junction transistor ၏လုပ်ဆောင်မှု။ နှစ်နှစ်ကျော်ကြာပြီးနောက်၊ Bell Labs မှ သိပ္ပံပညာရှင်များနှင့် အင်ဂျင်နီယာများသည် လမ်းဆုံထရန်စစ္စတာများ အမြောက်အမြားထုတ်လုပ်ခြင်း (၁၉၅၁ ခုနှစ်တွင် မှတ်တိုင်တစ်ခု) အောင်မြင်စေရန်အတွက် အီလက်ထရွန်နစ်နည်းပညာခေတ်သစ်ကို ဖွင့်လှစ်ပေးခဲ့သည်။ ထရန်စစ္စတာများ တီထွင်မှုအတွက် ၎င်းတို့၏ ပံ့ပိုးကူညီမှုများကို အသိအမှတ်ပြုသည့်အနေဖြင့် Shockley၊ Bardeen နှင့် Brattain တို့ ပူးပေါင်း၍ 1956 ခုနှစ် ရူပဗေဒဆိုင်ရာ နိုဘယ်ဆုကို ရရှိခဲ့သည်။
NPN bipolar junction transistor ၏ရိုးရှင်းသောဖွဲ့စည်းပုံဆိုင်ရာပုံကြမ်း
bipolar junction transistors များ၏ ဖွဲ့စည်းပုံနှင့် ပတ်သက်၍ ဘုံ BJT များမှာ NPN နှင့် PNP တို့ ဖြစ်သည်။ အတွင်းပိုင်းဖွဲ့စည်းပုံ အသေးစိတ်ကို အောက်ပါပုံတွင် ပြထားသည်။ emitter နှင့် သက်ဆိုင်သော မသန့်ရှင်းသော semiconductor ဒေသသည် မြင့်မားသော doping concentration ရှိသော emitter region ဖြစ်သည်။ အောက်ခံနှင့် သက်ဆိုင်သော မသန့်ရှင်းသော တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးတာ ဒေသသည် အလွန်ပါးလွှာသော အကျယ်ရှိပြီး အလွန်နည်းသော ဓာတုဗေဒ အာရုံစူးစိုက်မှု ရှိသော အခြေခံဒေသဖြစ်သည်။ စုဆောင်းသူနှင့် သက်ဆိုင်သော မသန့်ရှင်းသော တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးတာ ဒေသသည် ကြီးမားသော ဧရိယာနှင့် အလွန်နည်းသော ဓာတုပစ္စည်း ပါဝင်မှုရှိသော စုဆောင်းသည့် ဒေသဖြစ်သည်။
BJT နည်းပညာ၏ အားသာချက်များမှာ တုံ့ပြန်မှုနှုန်းမြင့်မားခြင်း၊ လျှို့ဝှက်ကူးယူနိုင်စွမ်းမြင့်မားခြင်း (အဝင်ဗို့အားပြောင်းလဲမှုများသည် ကြီးမားသောအထွက်လက်ရှိပြောင်းလဲမှုများနှင့် ကိုက်ညီသည်)၊ ဆူညံသံနည်းပါးခြင်း၊ မြင့်မားသော analog တိကျမှုနှင့် ခိုင်မာသောလက်ရှိမောင်းနှင်နိုင်မှုတို့ဖြစ်သည်။ အားနည်းချက်များမှာ ပေါင်းစည်းမှုနည်းခြင်း (ဒေါင်လိုက်အတိမ်အနက်ကို ဘေးတိုက်အရွယ်အစားဖြင့် လျှော့ချ၍မရပါ) နှင့် ပါဝါသုံးစွဲမှု မြင့်မားသည်။
2. MOS
Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor (Metal Oxide Semiconductor FET) ဆိုသည်မှာ သတ္တုအလွှာ (M-metal aluminium) ၏ တံခါးဝသို့ ဗို့အား သက်ရောက်ခြင်းဖြင့် semiconductor (S) conductive channel ၏ switch ကို ထိန်းချုပ်သော field effect transistor ဖြစ်ပြီး၊ လျှပ်စစ်စက်ကွင်း၏အကျိုးသက်ရောက်မှုကိုထုတ်လုပ်ရန် O-insulating အလွှာ (O-insulating အလွှာ SiO2) မှတဆင့်အရင်းအမြစ်။ ဂိတ်နှင့် အရင်းအမြစ်နှင့် ဂိတ်နှင့် မြောင်းများကို SiO2 insulating အလွှာဖြင့် သီးခြားခွဲထားသောကြောင့် MOSFET ကို insulated gate field effect transistor ဟုခေါ်သည်။ 1962 ခုနှစ်တွင် Bell Labs သည် ဆီမီးကွန်ဒတ်တာဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုသမိုင်းတွင် အရေးကြီးဆုံးမှတ်တိုင်တစ်ခုဖြစ်လာပြီး ဆီမီးကွန်ဒတ်တာမှတ်ဉာဏ်ထွန်းကားမှုအတွက် နည်းပညာဆိုင်ရာအခြေခံအုတ်မြစ်ကို တိုက်ရိုက်ချပေးသည့် အောင်မြင်သောဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုကို တရားဝင်ကြေညာခဲ့သည်။
MOSFET ကို conductive channel အမျိုးအစားအလိုက် P channel နှင့် N channel ဟူ၍ ခွဲခြားနိုင်သည်။ gate voltage amplitude အရ၊ depletion type- gate voltage သည် သုညဖြစ်ပြီး၊ drain နှင့် source အကြား conductive channel တစ်ခုရှိသည်။ N (P) ချန်နယ်ကိရိယာများအတွက် အဆင့်မြှင့်တင်မှုအမျိုးအစား၊ ဂိတ်ဗို့အား (သုညထက်နည်းသော) ထက်သာသော လျှပ်ကူးလမ်းကြောင်းတစ်ခု ရှိပြီး ပါဝါ MOSFET သည် အဓိကအားဖြင့် N ချန်နယ်အဆင့်မြှင့်တင်မှုအမျိုးအစားဖြစ်သည်။
MOS နှင့် triode အကြား အဓိက ကွာခြားချက်များ ပါဝင်သော်လည်း အောက်ပါအချက်များတွင် ကန့်သတ်မထားပေ။
-Triodes များသည် လူများစုနှင့် လူနည်းစု သယ်ဆောင်သူများသည် တစ်ချိန်တည်းတွင် ပါဝင်သောကြောင့် စိတ်ကြွကိရိယာများဖြစ်သည်။ MOS သည် ဆီမီးကွန်ဒတ်တာများတွင် အများအားဖြင့် သယ်ဆောင်သူများမှတဆင့် လျှပ်စစ်ကိုသာ သယ်ဆောင်ပြီး unipolar transistor ဟုလည်း ခေါ်သည်။
-Triodes များသည် ပါဝါသုံးစွဲမှုအတော်လေးမြင့်မားသော လက်ရှိထိန်းချုပ်ထားသော စက်ပစ္စည်းများဖြစ်သည်။ MOSFET များသည် ပါဝါသုံးစွဲမှုနည်းသော ဗို့အားထိန်းချုပ်ထားသော ကိရိယာများဖြစ်သည်။
-Triodes များသည် ကြီးမားသော ခုခံမှု ရှိပြီး MOS ပြွန်များတွင် သေးငယ်သော ခုခံမှုမှာ မီလီယို ရာဂဏန်းမျှသာ ရှိသည်။ လက်ရှိလျှပ်စစ်စက်ပစ္စည်းများတွင် MOS ပြွန်များကို ခလုတ်များအဖြစ် ယေဘုယျအားဖြင့် အသုံးပြုကြပြီး အဓိကအားဖြင့် MOS ၏စွမ်းဆောင်ရည်သည် triode များနှင့်နှိုင်းယှဉ်ပါက အတော်လေးမြင့်မားသောကြောင့်ဖြစ်သည်။
-Triodes သည် အတော်လေး အားသာချက်ရှိပြီး MOS tubes များသည် ဈေးကြီးသည်။
- ယခုခေတ်အခြေအနေအများစုတွင် triode များကိုအစားထိုးရန်အတွက် MOS tubes ကိုအသုံးပြုသည်။ ပါဝါနည်းသော သို့မဟုတ် ပါဝါအာရုံမခံနိုင်သော အခြေအနေအချို့တွင်သာ၊ စျေးနှုန်းအားသာချက်ကို ထည့်သွင်းစဉ်းစားသည့် triodes ကို အသုံးပြုပါမည်။
3. CMOS
Complementary Metal Oxide Semiconductor- CMOS နည်းပညာသည် အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများနှင့် လော့ဂျစ်ဆားကစ်များတည်ဆောက်ရန်အတွက် ဖြည့်စွက်ထားသော p-type နှင့် n-type metal oxide semiconductor transistors (MOSFETs) ကိုအသုံးပြုသည်။ အောက်ဖော်ပြပါပုံသည် "1→0" သို့မဟုတ် "0→1" အဖြစ်ပြောင်းလဲခြင်းအတွက်အသုံးပြုသည့် ဘုံ CMOS အင်ဗာတာတစ်ခုကို ပြသထားသည်။
အောက်ပါပုံသည် ပုံမှန် CMOS အပိုင်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဘယ်ဘက်ခြမ်းက NMS ဖြစ်ပြီး ညာဘက်ခြမ်းကတော့ PMOS ဖြစ်ပါတယ်။ MOS နှစ်ခု၏ G poles များကို ဘုံတံခါးပေါက်တစ်ခုအဖြစ် ချိတ်ဆက်ထားပြီး D poles များကို common drain output အဖြစ် ချိတ်ဆက်ထားသည်။ VDD သည် PMOS ၏ရင်းမြစ်နှင့် ချိတ်ဆက်ထားပြီး VSS သည် NMOS ၏အရင်းအမြစ်နှင့် ချိတ်ဆက်ထားသည်။
1963 ခုနှစ်တွင် Fairchild Semiconductor မှ Wanlass နှင့် Sah တို့သည် CMOS circuit ကို တီထွင်ခဲ့သည်။ 1968 ခုနှစ်တွင် American Radio Corporation (RCA) သည် ပထမဆုံး CMOS ပေါင်းစပ် circuit ထုတ်ကုန်ကို တီထွင်ခဲ့ပြီး ထိုအချိန်မှစ၍ CMOS circuit သည် ကောင်းမွန်စွာ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်လာခဲ့ပါသည်။ ၎င်း၏ အားသာချက်များမှာ ပါဝါသုံးစွဲမှု နည်းပါးပြီး မြင့်မားသော ပေါင်းစပ်မှု (STI/LOCOS လုပ်ငန်းစဉ်သည် ပေါင်းစည်းမှုကို ပိုမိုတိုးတက်စေနိုင်သည်)၊ ၎င်း၏အားနည်းချက်မှာ သော့ခတ်မှုအကျိုးသက်ရောက်မှုရှိကြောင်း (PN junction reverse bias ကို MOS ပြွန်များကြားတွင် သီးခြားခွဲထားမှုအဖြစ် အသုံးပြုပြီး အနှောင့်အယှက်ပေးသည့် ကွင်းဆက်တစ်ခုကို အလွယ်တကူ ဖန်တီးနိုင်ပြီး ဆားကစ်ကို လောင်ကျွမ်းစေသည်)။
4. DMOS
Double-Diffused Metal Oxide Semiconductor- သာမာန် MOSFET ကိရိယာများ၏ တည်ဆောက်ပုံနှင့် ဆင်တူသည်၊ ၎င်းတွင် အရင်းအမြစ်၊ မြောင်း၊ ဂိတ်နှင့် အခြားလျှပ်ကူးပစ္စည်း များပါရှိသော်လည်း မြောင်းအဆုံး၏ ပြိုကွဲဗို့အားမှာ မြင့်မားသည်။ Double diffusion process ကိုအသုံးပြုသည်။
အောက်ဖော်ပြပါပုံသည် စံ N-channel DMOS ၏ဖြတ်ပိုင်းအပိုင်းကိုပြသထားသည်။ ဤ DMOS စက်ပစ္စည်းအမျိုးအစားကို များသောအားဖြင့် MOSFET ၏အရင်းအမြစ်ကို မြေပြင်နှင့်ချိတ်ဆက်ထားသည့် low-side switching applications များတွင်အသုံးပြုသည်။ ထို့အပြင်၊ P-channel DMOS တစ်ခုရှိသည်။ MOSFET ၏အရင်းအမြစ်ကို အပြုသဘောဆောင်သောဗို့အားနှင့် ချိတ်ဆက်ထားရာ high-side switching applications များတွင် ဤ DMOS ကိရိယာကို များသောအားဖြင့် အသုံးပြုကြသည်။ CMOS နှင့်အလားတူ၊ ဖြည့်စွက် DMOS စက်ပစ္စည်းများသည် ဖြည့်စွက်ပြောင်းလဲခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်များကို ပံ့ပိုးပေးရန်အတွက် တူညီသောချစ်ပ်ပေါ်တွင် N-channel နှင့် P-channel MOSFET များကို အသုံးပြုပါသည်။
ချန်နယ်၏ဦးတည်ချက်ပေါ်မူတည်၍ DMOS သည် ဒေါင်လိုက်နှစ်ထပ်ပြန့်နှံ့သောသတ္တုအောက်ဆိုဒ်တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းနယ်ပယ်အကျိုးသက်ရောက်မှုထရန်စစ္စတာ VDMOS (Vertical Double-Diffused MOSFET) နှင့် နှစ်ဖက်ကွဲပြားသောနှစ်ထပ်သတ္တုအောက်ဆိုဒ်တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းနယ်ပယ်အကျိုးသက်ရောက်မှုထရန်စစ္စတာ LDMOS (Lateral Double -Diffused MOSFET)။
VDMOS စက်များကို ဒေါင်လိုက်ချန်နယ်ဖြင့် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။ ဘေးတိုက်ရှိ DMOS စက်များနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက ၎င်းတို့တွင် ပိုမိုမြင့်မားသော ပြိုကွဲဗို့အားနှင့် လက်ရှိ ကိုင်တွယ်လုပ်ဆောင်နိုင်စွမ်းများ ရှိသော်လည်း on-resistance မှာ အတော်လေး ကြီးမားဆဲဖြစ်သည်။
LDMOS စက်များကို ဘေးတိုက်ချန်နယ်တစ်ခုဖြင့် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားပြီး အချိုးမညီသော ပါဝါ MOSFET စက်များဖြစ်သည်။ ဒေါင်လိုက် DMOS စက်ပစ္စည်းများနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက ၎င်းတို့သည် ခုခံနိုင်စွမ်းနည်းပါးပြီး ကူးပြောင်းမှုအမြန်နှုန်းများကို ပိုမိုမြန်ဆန်စေသည်။
သမားရိုးကျ MOSFETs များနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက DMOS သည် စွမ်းရည်မြင့်ပြီး ခံနိုင်ရည်နည်းပါးသောကြောင့် ပါဝါခလုတ်များ၊ ပါဝါကိရိယာများနှင့် လျှပ်စစ်ကားဒရိုက်များကဲ့သို့သော ပါဝါမြင့်သော အီလက်ထရွန်နစ်ပစ္စည်းများတွင် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုပါသည်။
5. BiCMOS
Bipolar CMOS သည် တူညီသောချစ်ပ်ပေါ်တွင် CMOS နှင့် စိတ်ကြွစက်ပစ္စည်းများကို တစ်ချိန်တည်းတွင် ပေါင်းစပ်ထားသည့် နည်းပညာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်း၏အခြေခံအယူအဆမှာ CMOS စက်များကို ပင်မယူနစ်ပတ်လမ်းအဖြစ် အသုံးပြုရန်နှင့် ကြီးမားသော capacitive load များကို မောင်းနှင်ရန်လိုအပ်သည့် bipolar devices သို့မဟုတ် circuits များကို ပေါင်းထည့်ရန်ဖြစ်သည်။ ထို့ကြောင့် BiCMOS ဆားကစ်များသည် CMOS ဆားကစ်များ၏ မြင့်မားသောပေါင်းစပ်မှုနှင့် ပါဝါသုံးစွဲမှုနည်းခြင်း၏ အားသာချက်များနှင့် BJT ဆားကစ်များ၏ မြန်နှုန်းမြင့်ပြီး အားကောင်းသော လက်ရှိမောင်းနှင်နိုင်မှု၏ အားသာချက်များရှိသည်။
STMicroelectronics ၏ BiCMOS SiGe (ဆီလီကွန်ဂျာမနီယမ်) နည်းပညာသည် ချစ်ပ်တစ်ခုတည်းတွင် RF၊ analog နှင့် ဒစ်ဂျစ်တယ်အစိတ်အပိုင်းများကို ပေါင်းစပ်ထားသောကြောင့် ပြင်ပအစိတ်အပိုင်းများ၏ အရေအတွက်ကို သိသိသာသာလျှော့ချနိုင်ပြီး ပါဝါသုံးစွဲမှုကို ပိုကောင်းအောင်ပြုလုပ်နိုင်သည်။
6. BCD
Bipolar-CMOS-DMOS၊ ဤနည်းပညာသည် 1986 ခုနှစ်တွင် STMicroelectronics (ST) မှ ပထမဆုံးအောင်မြင်စွာတီထွင်ခဲ့သော BCD process ဟုခေါ်သော တူညီသောချစ်ပ်ပေါ်တွင် စိတ်ကြွ၊ CMOS နှင့် DMOS စက်ပစ္စည်းများကို ပြုလုပ်နိုင်သည်။
Bipolar သည် analog circuits များအတွက် သင့်လျော်သည်၊ CMOS သည် ဒစ်ဂျစ်တယ်နှင့် logic circuit များအတွက် သင့်လျော်ပြီး DMOS သည် power နှင့် high-voltage devices များအတွက် သင့်လျော်ပါသည်။ BCD သုံးခု၏ အားသာချက်များကို ပေါင်းစပ်ထားသည်။ စဉ်ဆက်မပြတ်တိုးတက်ကောင်းမွန်လာပြီးနောက်၊ BCD ကို ပါဝါစီမံခန့်ခွဲမှု၊ analog ဒေတာရယူမှုနှင့် ပါဝါ actuators နယ်ပယ်များတွင် ထုတ်ကုန်များတွင် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုပါသည်။ ST ၏တရားဝင်ဝဘ်ဆိုဒ်အရ BCD အတွက် ရင့်ကျက်သောလုပ်ငန်းစဉ်သည် 100nm ဝန်းကျင်တွင်ရှိနေဆဲဖြစ်ပြီး 90nm သည် ရှေ့ပြေးပုံစံတွင်ရှိနေဆဲဖြစ်ပြီး 40nmBCD နည်းပညာသည် ၎င်း၏မျိုးဆက်သစ်ထုတ်ကုန်များကို တီထွင်နေဆဲဖြစ်သည်။
စာတိုက်အချိန်- စက်တင်ဘာ-၁၀-၂၀၂၄