Новости

  • Каковы технические барьеры на пути использования карбида кремния?Ⅱ

    Каковы технические барьеры на пути использования карбида кремния?Ⅱ

    Технические трудности в стабильном массовом производстве высококачественных пластин карбида кремния со стабильными характеристиками включают в себя: 1) Поскольку кристаллы должны расти в высокотемпературной герметичной среде выше 2000 ° C, требования к контролю температуры чрезвычайно высоки; 2) Поскольку карбид кремния имеет больше...
    Читать далее
  • Каковы технические барьеры для карбида кремния?

    Каковы технические барьеры для карбида кремния?

    Первое поколение полупроводниковых материалов представлено традиционными кремнием (Si) и германием (Ge), которые являются основой производства интегральных схем. Они широко используются в низковольтных, низкочастотных и маломощных транзисторах и детекторах. Более 90% полупроводниковой продукции...
    Читать далее
  • Как изготавливается микропорошок SiC?

    Как изготавливается микропорошок SiC?

    Монокристалл SiC представляет собой составной полупроводниковый материал групп IV-IV, состоящий из двух элементов, Si и C, в стехиометрическом соотношении 1:1. Его твердость уступает только алмазу. Метод восстановления углеродом оксида кремния для получения SiC в основном основан на следующей формуле химической реакции...
    Читать далее
  • Как эпитаксиальные слои помогают полупроводниковым устройствам?

    Как эпитаксиальные слои помогают полупроводниковым устройствам?

    Происхождение названия «эпитаксиальная пластина» Прежде всего, давайте популяризировать небольшую концепцию: подготовка пластин включает в себя два основных звена: подготовку подложки и эпитаксиальный процесс. Подложка представляет собой пластину из полупроводникового монокристаллического материала. Подложка может напрямую поступать в производство пластин...
    Читать далее
  • Введение в технологию химического осаждения из паровой фазы (CVD)

    Введение в технологию химического осаждения из паровой фазы (CVD)

    Химическое осаждение из паровой фазы (CVD) — это важная технология осаждения тонких пленок, часто используемая для приготовления различных функциональных пленок и тонкослойных материалов, а также широко используемая в производстве полупроводников и других областях. 1. Принцип работы CVD. В процессе CVD используется прекурсор газа (один или несколько...
    Читать далее
  • Секрет «черного золота» фотоэлектрической полупроводниковой промышленности: желание и зависимость от изостатического графита

    Секрет «черного золота» фотоэлектрической полупроводниковой промышленности: желание и зависимость от изостатического графита

    Изостатический графит — очень важный материал в фотогальванике и полупроводниках. С быстрым ростом отечественных компаний изостатического графита монополия иностранных компаний в Китае была нарушена. Благодаря непрерывным независимым исследованиям и разработкам, а также технологическим прорывам, ...
    Читать далее
  • Раскрытие основных характеристик графитовых лодочек в производстве полупроводниковой керамики

    Раскрытие основных характеристик графитовых лодочек в производстве полупроводниковой керамики

    Графитовые лодочки, также известные как графитовые лодочки, играют решающую роль в сложных процессах производства полупроводниковой керамики. Эти специализированные емкости служат надежными носителями полупроводниковых пластин во время высокотемпературной обработки, обеспечивая точную и контролируемую обработку. С ...
    Читать далее
  • Подробно объяснено внутреннее устройство трубчатого оборудования печи.

    Подробно объяснено внутреннее устройство трубчатого оборудования печи.

    Как показано выше, это типичная первая половина: Нагревательный элемент (нагревательная катушка): расположен вокруг печной трубы, обычно изготовлен из резистивной проволоки и используется для нагрева внутренней части печи. Кварцевая трубка: Сердечник печи горячего окисления, изготовленный из кварца высокой чистоты, способного выдерживать высокие температуры.
    Читать далее
  • Влияние подложки SiC и эпитаксиальных материалов на характеристики MOSFET-устройства

    Влияние подложки SiC и эпитаксиальных материалов на характеристики MOSFET-устройства

    Треугольный дефект Треугольные дефекты являются наиболее опасными морфологическими дефектами эпитаксиальных слоев SiC. В большом количестве литературных сообщений показано, что образование треугольных дефектов связано с кристаллической формой 3С. Однако из-за разных механизмов роста морфология многих растений...
    Читать далее
Онлайн-чат WhatsApp!