Estructuras epitaxiales de arseniuro-fosfuro de galio, similares a las estructuras producidas del sustrato tipo ASP (ET0.032.512TU), para el. Fabricación de cristales LED rojos planos.
Parámetro técnico básico
a estructuras de arseniuro-fosfuro de galio
1, sustrato GaAs | |
a. Tipo de conductividad | electrónico |
b. Resistividad, ohm-cm | 0,008 |
do. Orientación de red cristalina | (100) |
d. Desorientación superficial | (1-3)° |
2. Capa epitaxial GaAs1-х Pх | |
a. Tipo de conductividad | electrónico |
b. Contenido de fósforo en la capa de transición. | de х = 0 a х ≈ 0,4 |
do. Contenido de fósforo en una capa de composición constante. | х ≈ 0,4 |
d. Concentración de portador, cm3 | (0,2−3,0)·1017 |
mi. Longitud de onda en el máximo del espectro de fotoluminiscencia, nm | 645-673 nanómetro |
F. Longitud de onda en el máximo del espectro de electroluminiscencia. | 650-675 nanómetro |
gramo. Espesor de capa constante, micras | Al menos 8 nm |
h. Espesor de capa (total), micras | Al menos 30 nm |
3 Placa con capa epitaxial | |
a. Deflexión, micras | Como máximo 100 um |
b. Espesor, micras | 360-600 micras |
do. centímetro cuadrado | Al menos 6 cm2 |
d. Intensidad luminosa específica (después de difusiónZn), cd/amp | Al menos 0,05 cd/amp |