La línia de productes de VET Energy no es limita a les hòsties de silici. També oferim una àmplia gamma de materials de substrat semiconductors, com el substrat de SiC, l'hòstia SOI, el substrat de SiN, l'oblea Epi, etc., així com nous materials semiconductors de banda ampla com ara l'òxid de gal·li Ga2O3 i l'hòstia AlN. Aquests productes poden satisfer les necessitats d'aplicació de diferents clients en electrònica de potència, radiofreqüència, sensors i altres camps.
Camps d'aplicació:
•Circuits integrats:Com a material bàsic per a la fabricació de circuits integrats, les hòsties de silici de tipus P s'utilitzen àmpliament en diversos circuits lògics, memòries, etc.
•Dispositius d'alimentació:Les hòsties de silici de tipus P es poden utilitzar per fabricar dispositius de potència com transistors i díodes de potència.
•Sensors:Les hòsties de silici de tipus P es poden utilitzar per fer diversos tipus de sensors, com ara sensors de pressió, sensors de temperatura, etc.
•Cèl·lules solars:Les hòsties de silici de tipus P són un component important de les cèl·lules solars.
VET Energy ofereix als clients solucions d'hòsties personalitzades i pot personalitzar hòsties amb diferent resistivitat, diferents continguts d'oxigen, diferents gruixos i altres especificacions segons les necessitats específiques dels clients. A més, també oferim suport tècnic professional i servei postvenda per ajudar els clients a resoldre diversos problemes trobats en el procés de producció.
ESPECIFICACIONS DE LA HÒBLEA
*n-Pm=n-tipus Pm-Grau, n-Ps=n-tipus Ps-Grau, Sl=Semi-aïllant
Item | 8 polzades | 6 polzades | 4 polzades | ||
nP | n-p.m | n-Ps | SI | SI | |
TTV (GBIR) | ≤6um | ≤6um | |||
Arc (GF3YFCD)-Valor absolut | ≤15μm | ≤15μm | ≤25μm | ≤15μm | |
Deformació (GF3YFER) | ≤25μm | ≤25μm | ≤40μm | ≤25μm | |
LTV (SBIR) - 10 mm x 10 mm | <2 μm | ||||
Vora de l'hòstia | Bisellat |
ACABAT SUPERFICIAL
*n-Pm=n-tipus Pm-Grau, n-Ps=n-tipus Ps-Grau, Sl=Semi-aïllant
Item | 8 polzades | 6 polzades | 4 polzades | ||
nP | n-p.m | n-Ps | SI | SI | |
Acabat superficial | Poliment òptic de doble cara, CMP Si-face | ||||
Rugositat superficial | (10um x 10um) Si-FaceRa≤0,2 nm | (5umx5um) Si-Face Ra≤0.2nm | |||
Xips de vora | Cap permès (longitud i amplada ≥0,5 mm) | ||||
Sagnats | Cap permès | ||||
Esgarrapades (Si-Face) | Quantitat ≤5, acumulat | Quantitat ≤5, acumulat | Quantitat ≤5, acumulat | ||
Esquerdes | Cap permès | ||||
Exclusió de vora | 3 mm |