Epitaxia GaN na báze kremíka

Krátky popis:


  • Miesto pôvodu:Čína
  • Kryštálová štruktúra:FCCβ fáza
  • Hustota:3,21 g/cm
  • Tvrdosť:2500 Vickers
  • Veľkosť zrna:2 ~ 10 μm
  • Chemická čistota:99,99995 %
  • Tepelná kapacita:640J·kg-1·K-1
  • Teplota sublimácie:2700 ℃
  • Felexurálna sila:415 Mpa (RT 4-bodová)
  • Youngov modul:430 Gpa (4pt ohyb, 1300 ℃)
  • Tepelná expanzia (CTE):4,5 10-6K-1
  • Tepelná vodivosť:300 (W/MK)
  • Detail produktu

    Štítky produktu

    Popis produktu

    Naša spoločnosť poskytuje služby procesu poťahovania SiC metódou CVD na povrchu grafitu, keramiky a iných materiálov tak, že špeciálne plyny obsahujúce uhlík a kremík reagujú pri vysokej teplote za vzniku vysoko čistých molekúl SiC, molekúl usadených na povrchu poťahovaných materiálov, vytvára ochrannú vrstvu SIC.

    Hlavné vlastnosti:

    1. Odolnosť proti oxidácii pri vysokej teplote:

    odolnosť proti oxidácii je stále veľmi dobrá, keď je teplota až 1600 C.

    2. Vysoká čistota: vyrobená chemickou depozíciou pár pri vysokej teplote chlorácie.

    3. Odolnosť proti erózii: vysoká tvrdosť, kompaktný povrch, jemné častice.

    4. Odolnosť proti korózii: kyselinám, zásadám, soliam a organickým činidlám.

    Hlavné špecifikácie povlaku CVD-SIC

    Vlastnosti SiC-CVD

    Kryštálová štruktúra FCC β fáza
    Hustota g/cm³ 3.21
    Tvrdosť Tvrdosť podľa Vickersa 2500
    Veľkosť zrna μm 2~10
    Chemická čistota % 99,99995
    Tepelná kapacita J·kg-1 ·K-1 640
    Teplota sublimácie 2700
    Felexurálna sila MPa (RT 4-bodové) 415
    Youngov modul Gpa (4pt ohyb, 1300 ℃) 430
    Tepelná expanzia (CTE) 10-6K-1 4.5
    Tepelná vodivosť (W/mK) 300

    1 2 3 4 5 6 7 8 9


  • Predchádzajúce:
  • Ďalej:

  • WhatsApp online chat!