Estruturas epitaxiais de arseniuro de galio-fosfuro, semellantes ás estruturas producidas do tipo substrato ASP (ET0.032.512TU), para o. fabricación de cristais LED planos vermellos.
Parámetro técnico básico
ás estruturas de arseniuro de galio-fosfuro
1, SubstrateGaAs | |
a. Tipo de condutividade | electrónico |
b. Resistividad, ohm-cm | 0,008 |
c. Orientación cristalina | (100) |
d. Desorientación superficial | (1−3)° |
2. Capa epitaxial GaAs1-х Pх | |
a. Tipo de condutividade | electrónico |
b. Contido de fósforo na capa de transición | de х = 0 ata х ≈ 0,4 |
c. Contido de fósforo nunha capa de composición constante | х ≈ 0,4 |
d. Concentración de portadores, сm3 | (0,2−3,0)·1017 |
e. Lonxitude de onda ao máximo do espectro de fotoluminiscencia, nm | 645−673 nm |
f. Lonxitude de onda no máximo do espectro de electroluminiscencia | 650-675 nm |
g. Espesor de capa constante, micras | Polo menos 8 nm |
h. Espesor de capa (total), micras | Polo menos 30 nm |
3 Placa con capa epitaxial | |
a. Deflexión, micras | Como máximo 100 um |
b. Espesor, micras | 360-600 um |
c. Centímetro cadrado | Polo menos 6 cm2 |
d. Intensidade luminosa específica (despois da difusión Zn), cd/amp | Polo menos 0,05 cd/amp |