PSS Etch Carrier

Kratak opis:

Mjesto porijekla:Kina

Kristalna struktura:FCCβ faza

Gustina:3,21 g/cm;

tvrdoća:2500 Vickers;

Veličina zrna:2~10μm;

Hemijska čistoća:99,99995%;

Toplotni kapacitet:640J·kg-1·K-1;

Temperatura sublimacije:2700℃;

Felexuralna snaga:415 Mpa (RT 4-Point);

Youngov modul:430 Gpa (4pt savijanje, 1300℃);

Toplotna ekspanzija (CTE):4,5 10-6K-1;

Toplotna provodljivost:300 (W/MK);

Pošaljite nam email Preuzmite kao PDF

Detalji o proizvodu

Oznake proizvoda

Opis proizvoda

Naša kompanija pruža usluge obrade SiC premaza CVD metodom na površini grafita, keramike i drugih materijala, tako da specijalni gasovi koji sadrže ugljenik i silicijum reaguju na visokoj temperaturi da bi dobili molekule SiC visoke čistoće, molekule taložene na površini obloženih materijala, formirajući SIC zaštitni sloj.

Glavne karakteristike:

1. Otpornost na oksidaciju na visokim temperaturama:

otpornost na oksidaciju je i dalje vrlo dobra kada je temperatura čak 1600 C.

2. Visoka čistoća: napravljeno hemijskim taloženjem pare pod uslovima hlorisanja na visokoj temperaturi.

3. Otpornost na eroziju: visoka tvrdoća, kompaktna površina, fine čestice.

4. Otpornost na koroziju: kiseline, alkalije, soli i organski reagensi.

Glavne specifikacije CVD-SIC premaza

Svojstva SiC-CVD
Crystal Structure	FCC β faza
Gustina	g/cm ³	3.21
Tvrdoća	Vickers tvrdoća	2500
Veličina zrna	μm	2~10
Chemical Purity	%	99,99995
Heat Capacity	J·kg-1 ·K-1	640
Temperatura sublimacije	℃	2700
Felexural Strength	MPa (RT 4 tačke)	415
Youngov modul	Gpa (4pt savijanje, 1300℃)	430
toplinska ekspanzija (CTE)	10-6K-1	4.5
Toplotna provodljivost	(W/mK)	300